Atividade

97383 - Os Métodos de Difração e a Análise de Fases

Período:
Sábado 08:00 às 18:00
 
Descrição: Carga Horária: 60 h
Teórica: 38 h
Prática: 16 h
Seminários: 6 h

Objetivos:
Propiciar o aprofundamento de conhecimentos nos diferentes métodos de difração usando raios-x em laboratório e com luz sincrotron, bem como nêutrons para a caracterização microestrutural quantitativa nas diversas classes de materiais cristalinos de engenharia (metais e cerâmicas), de modo a possibilitar ao aluno a execução experimental e a aplicação dos métodos de análise de maneira autônoma. Os alunos serão incentivados a trazer suas próprias amostras para análise e discussão em sala de aula.

Justificativa:
Este curso tem como característica atrativa principal fornecer ao aluno a oportunidade de verificar, na teoria e na prática, os princípios fundamentais, a instrumentação e as metodologias empregadas na caracterização microestrutural qualitativa e quantitativa utilizando a técnica de refinamento Rietveld em amostras e peças de engenharia.

Conteúdo:
Teoria: Produção e propriedades dos raios-X (laboratório e sincrotron) e nêutrons, teoria cinemática de difração de raios-X, lei de Bragg, instrumentação e geometrias na difração de raios-X, difração de raios-x com feixe monocromático (dispersão angular) e policromático (dispersão de energia), análise qualitativa de fases usando as bases de dados cristalográficos, descrição matemática dos difractogramas de raios-X, análise quantitativa de fase e microestrutura via refinamento Rietveld, instrumentações para uso de luz sincrotron e nêutrons.
Prática: Práticas laboratoriais sobre as análises de fase e microestrutura usando a difração de raios-X em laboratório. Apresentação, análise e discussão de dados obtidos de modo in-situ usando luz sincrotron.

Forma de Avaliação:
Média ponderada de uma prova final oral, dos relatórios das práticas e uma apresentação oral de seminário, com avaliação individual e coletiva das práticas conduzidas em equipe.

Bibliografia:
1. REIMERS, W.; PYZALLA, A. R.; SCHREYER, A.; CLEMENS, H., “Neutrons and Synchrotron Radiation in Engineering Materials Science”, WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2008.
2. CULLITY B.D.; STOCK S.R. “Elements of X-Ray Diffraction”, Addison-Wesley Publishing Company, London.
3. KLUG H.P.; ALEXANDER L.E. "X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials", Wiley, New York.
4. BIRKHOLZ, M., “Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization”, Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA , 2005.

Carga Horária:

60 horas
Tipo: Obrigatória
Vagas oferecidas: 50
 
Ministrantes: Haroldo Cavalcanti Pinto


 
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