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Júpiter - Sistema de Graduação

Escola de Engenharia de Lorena

Engenharia de Materiais

Disciplina: LOM3229 - Métodos Experimentais da Física II

Créditos Aula:	4
Créditos Trabalho:	0
Tipo:	Semestral

Objetivos

Apresentar as técnicas experimentais de preparação materialográfica e de caracterização de materiais.

Docente(s) Responsável(eis)

	Durval Rodrigues Junior
	Paulo Atsushi Suzuki

Programa Resumido

Difração de raios X. Materialografia. Microscopia óptica. Microscopia eletrônica. Análise térmica.

Programa

A microestrutura dos materiais. Sistemas e reticulados cristalinos, grupos espaciais e simetria, tipos mais comuns de estruturas cristalinas. Projeção estereográfica. Direção do feixe difratado e a lei de Bragg. Intensidade do feixe difratado. Métodos de difração de raios X.
Preparação materialográfica de amostras: corte, embutimento, lixamento e polimento. Técnicas de ataque químico para revelação de fases. Fundamentos de materialografia quantitativa. Microscopia óptica. Técnicas de microscopia eletrônica: varredura e transmissão. Análise química de microrregiões: espectroscopia de energia dispersiva. Técnicas de análise térmica: análise térmica diferencial, calorimetria exploratória diferencial e análise termogravimétrica.

Avaliação

	Método
	Experimentos desenvolvidos em laboratório didático, realização de relatórios para cada experimento e de testes sobre o experimento em estudo.

	Critério
	Média aritmética de duas provas escritas, testes, trabalhos e relatórios: P1, P2 e TR. Conceito Final = (P1 + P2 + TR)/3

	Norma de Recuperação
	Aplicação de uma prova escrita e prática dentro do prazo regimental antes do início do próximo semestre letivo. A nota da segunda avaliação será a média aritmética entre a nota da prova de recuperação e a nota final da primeira avaliação

Bibliografia

PADILHA, A.F. Técnicas de Análise Microestrutural, Ed. Hemus, São Paulo, 1985.
MURPHY, D. B. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging, Wiley-Liss, 2001.
WU, Q.; MERCHANT, F.; CASTLEMAN, K. Microscope Image Processing, Academic Press, 2008.
CULLITY, B. D.; STOCK, S. R. Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, 2001.
YACOBI, B. G.; HOLT, D. B.; KAZMERSKI, L. L. Microanalysis of Solids. Plenum Press, New York, 1994.
HATAKEYAMA, T.; ZHENHAI, L. Handbook of Thermal Analysis, Wiley, 1999.
HAINES, P. J. Principles of Thermal Analysis and Calorimetry, Royal Society of Chemistry, 2002.

Requisitos

Os Requisitos variam conforme o curso para o qual ela é oferecida.

Clique para consultar o oferecimento para LOM3229.