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Júpiter - Sistema de Graduação

Escola de Engenharia de Lorena
 
Engenharia de Materiais
 
Disciplina: LOM3246 - Técnicas de Caracterização de Materiais

Créditos Aula: 4
Créditos Trabalho: 0
Tipo: Semestral

Objetivos
Fornecer ao aluno o conhecimento das principais técnicas de caracterização física e química de materiais.
 
Docente(s) Responsável(eis)
Durval Rodrigues Junior
 
Programa Resumido
Análise granulométrica e superficial. Análises microestruturais. Análises térmicas. Reometria.
 
Programa
Análise granulométrica. Adsorção BET, porosidade e picnometria.
Análises microestruturais: difração de raios X, figura de Laue; espalhamento de raios X (SAXS). Difração de elétrons. Microscopia Óptica. Microscopia eletrônica, microanálise de raios X (EDX e WDX).
Análises térmicas: Análise térmica diferencial (DTA), calorimetria exploratória diferencial (DSC) e termogravimetria (TGA).
Reometria de líquidos, soluções e pastas.
 
Avaliação
 
      Método
      Listas de exercícios, provas escritas, apresentação de seminário, aulas de laboratório e preparação de relatórios.
 
      Critério
      Média ponderada de duas provas escritas, trabalhos e relatórios: P1, P2 e TR. Conceito Final = (P1 + 2P2 + TR)/4
 
      Norma de Recuperação
      Aplicação de uma prova escrita dentro do prazo regimental antes do início do próximo semestre letivo. A nota da segunda avaliação será a média aritmética entre a nota da prova de recuperação e a nota final da primeira avaliação
 
Bibliografia
LOWELL, S.; SHIELDS, J. E.; THOMAS, M. A.; THOMMES, M. Characterization of Porous Solids and Powders: Surface Area, Pore Size and Density, Springer, 2010.
PADILHA, A.F. Técnicas de Análise Microestrutural, Ed. Hemus, São Paulo, 1985.
MURPHY, D. B. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging, Wiley-Liss, 2001.
WU, Q.; MERCHANT, F.; CASTLEMAN, K. Microscope Image Processing, Academic Press, 2008.
CULLITY, B. D.; STOCK, S. R. Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, 2001.
GOLDSTEIN, J.; et al., Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003.
YACOBI, B. G.; HOLT, D. B.; KAZMERSKI, L. L. Microanalysis of Solids. Plenum Press, 1994.
HATAKEYAMA, T.; ZHENHAI, L. Handbook of Thermal Analysis, Wiley, 1999.
HAINES, P. J. Principles of Thermal Analysis and Calorimetry, Royal Society of Chemistry, 2002.
SCHRAMM, G. Reologia e Reometria. Editora Artliber, 2006.
 
Requisitos
Os Requisitos variam conforme o curso para o qual ela é oferecida.

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