Esta disciplina apresenta aos alunos diversas técnicas empregadas no desenvolvimento de trabalhos experimentais em física dos materiais. Serão estudados os princípios que governam essas técnicas e os seus limites de aplicabilidade. Para cada técnica, serão estudados os principais métodos de análise de resultados experimentais.
1. Introdução teórica aos fenômenos envolvendo a interação de radiação ou de partículas com a matéria. 2. Interação radiação-matéria:a. Raios-X (difração e reflectometria). b. Radiação Sincrotron (técnicas difrativas e de absorção, dicroísmos e reflectometrias).c. Técnicas ópticas (microscopia, espectrofotometria, FTIR, RAMAN, elipsometria).3. Interação elétrons-matéria:a. Microscopias eletrônicas (SEM, TEM e STEM de alta resolução, Auger e micro-análise de raios-X). b. difração eletrônica (LEED e RHEED).4. Interação íons-matéria:a. Retro-espalhamento Rutherford e PIXE.5. Microscopias de Proximidade (AFM, STM, MFM, SNOM,...).6. Interação nêutron-matéria.
1. Elements of x-ray diffraction, B. D. Cullity, Addison-Wesley (1956). 2. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, L.C. Feldman, J.W. Mayer, North Holland, (1986).3. Atomic and Molecular Spectroscopy, S. Svanberg, Springer (1992).4. Scanning Tunneling Microscopy, H.G. Guntherodt, R. Wiesendanger, Springer (1992).5. Scanning Electron Microscopy, J.L. Goldstein, (1980).
