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Júpiter - Sistema de Graduação

Instituto de Física
 
Disciplinas Interdepartamentais do Instituto de Física
 
Disciplina: 4302504 - Técnicas de Caracterização de Materiais
Techniques for Characterization of Materials

Créditos Aula: 4
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 60 h
Tipo: Semestral
Ativação: 01/01/2016 Desativação:

Objetivos
Esta disciplina apresenta aos alunos diversas técnicas empregadas no desenvolvimento de trabalhos experimentais em física dos materiais. Serão estudados os princípios que governam essas técnicas e os seus limites de aplicabilidade. Para cada técnica, serão estudados os principais métodos de análise de resultados experimentais.
 
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
92101 - Antonio Domingues dos Santos
 
Programa Resumido
 
 
 
Programa
1. Introdução teórica aos fenômenos envolvendo a interação de radiação ou de partículas com a matéria.
2. Interação radiação-matéria:
a. Raios-X (difração e reflectometria).
b. Radiação Sincrotron (técnicas difrativas e de absorção, dicroísmos e reflectometrias).
c. Técnicas ópticas (microscopia, espectrofotometria, FTIR, RAMAN, elipsometria).
3. Interação elétrons-matéria:
a. Microscopias eletrônicas (SEM, TEM e STEM de alta resolução, Auger e micro-análise de raios-X).
b. difração eletrônica (LEED e RHEED).
4. Interação íons-matéria:
a. Retro-espalhamento Rutherford e PIXE.
5. Microscopias de Proximidade (AFM, STM, MFM, SNOM,...).
6. Interação nêutron-matéria.
 
 
 
Avaliação
     
Método
Aulas expositivas e aulas participativas. Listas de exercícios a serem resolvidos durante a aula e extraclasse.
Critério
Provas, seminários e exercícios a critério do professor.
Norma de Recuperação
Com 2 avaliação.
 
Bibliografia
     
1. Elements of x-ray diffraction, B. D. Cullity, Addison-Wesley (1956).
2. Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, L.C. Feldman, J.W. Mayer, North Holland, (1986).
3. Atomic and Molecular Spectroscopy, S. Svanberg, Springer (1992).
4. Scanning Tunneling Microscopy, H.G. Guntherodt, R. Wiesendanger, Springer (1992).
5. Scanning Electron Microscopy, J.L. Goldstein, (1980).
 

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