Informações da Disciplina

 Preparar para impressão 
Júpiter - Sistema de Graduação

Instituto de Física
 
Disciplinas Interdepartamentais do Instituto de Física
 
Disciplina: 4305205 - Microscopia de Força Atômica e Tunelamento
Tunneling and Atomic Force Microscopy

Créditos Aula: 5
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 75 h
Tipo: Semestral
Ativação: 01/01/2018 Desativação:

Objetivos
Introduzir alunos de Pós-Graduação na técnica experimental de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento.
 
Introduce Graduate students in the experimental technique of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy.
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
2143560 - Paulo Alberto Nussenzveig
 
Programa Resumido
1.Introdução: SPM (Scanning Probe Microscopy) 2.Microscopia de Tunelamento (STM): princípio de operação, teoria, instrumentação e aplicações. 3.Espectroscopia de tunelamento. 4.Microscopia de Força Atômica (AFM): princípio de operação, teoria, instrumentação e aplicações, incluindo as três modalidades: 4.1AFM por contato 4.2AFM por não contato 4.3AFM por contato intermitente 5.Microscopia de Força Lateral 6.Microscopia de Força Magnética 7.Microscopia de Força Elétrica 8.Cantiléver: propriedades, escolha, forma da ponta e resolução. 10. Scanner: Projeto e operação, não linearidade (histerese, arrastamento, envelhecimento), correções por software e hardware, calibração. 11.SPM como uma ferramenta de análise de superfície 12.Processamento de imagens: programas disponíveis, artefatos.
 
1. Introduction: SPM (Scanning Probe Microscopy) 2. Scanning Tunneling Microscopy (STM) operating principle, theory, instrumentation and applications. 3. Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) 4. Atomic Force Microscopy (AFM): principle of operation, theory, instrumentation and applications, including three modes: 4.1 Contact AFM 4.2 Non-contact AFM 4.3 Intermittent contact AFM 5. Lateral Force Microscopy (LFM) 6. Force Modulation Microscopy (FMM) 7. Magnetic Force Microscopy (MFM) 8. Electric Force Microscopy (EFM) 9. Cantilever: properties, choice, tip shape and resolution. 10. Scanner: Design and operation nonlinearities (hysteresis, creep, aging), corrections using software and using hardware. 11. SPM as a tool for surface analysis. 12. Image processing: available software and artifacts.
 
 
Programa
1.Introdução: SPM (Scanning Probe Microscopy) 2.Microscopia de Tunelamento (STM): princípio de operação, teoria, instrumentação e aplicações. 3.Espectroscopia de tunelamento. 4.Microscopia de Força Atômica (AFM): princípio de operação, teoria, instrumentação e aplicações, incluindo as três modalidades: 4.1AFM por contato 4.2AFM por não contato 4.3AFM por contato intermitente 5.Microscopia de Força Lateral 6.Microscopia de Força Magnética 7.Microscopia de Força Elétrica 8.Cantiléver: propriedades, escolha, forma da ponta e resolução. 10. Scanner: Projeto e operação, não linearidade (histerese, arrastamento, envelhecimento), correções por software e hardware, calibração. 11.SPM como uma ferramenta de análise de superfície 12.Processamento de imagens: programas disponíveis, artefatos.
 
1. Introduction: SPM (Scanning Probe Microscopy) 2. Scanning Tunneling Microscopy (STM) operating principle, theory, instrumentation and applications. 3. Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) 4. Atomic Force Microscopy (AFM): principle of operation, theory, instrumentation and applications, including three modes: 4.1 Contact AFM 4.2 Non-contact AFM 4.3 Intermittent contact AFM 5. Lateral Force Microscopy (LFM) 6. Force Modulation Microscopy (FMM) 7. Magnetic Force Microscopy (MFM) 8. Electric Force Microscopy (EFM) 9. Cantilever: properties, choice, tip shape and resolution. 10. Scanner: Design and operation nonlinearities (hysteresis, creep, aging), corrections using software and using hardware. 11. SPM as a tool for surface analysis. 12. Image processing: available software and artifacts.
 
 
Avaliação
     
Método
Aulas expositivas.
Critério
Prova, Relatórios e Seminários.
Norma de Recuperação
Sem recuperação.
 
Bibliografia
     
Apostila Outros textos: - R. Wiesendanger - "Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy". Cambridge University Press, New York 1994. - S. H. Cohen, M. T. Bray and M. L. Lightbody - "Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy". Plenum Press, New York 1994. - C. Julian Chen - "Introduction to Scanning Tunneling Microscopy". Oxford University Press, New York 1993.
 

Clique para consultar os requisitos para 4305205

Clique para consultar o oferecimento para 4305205

Créditos | Fale conosco
© 1999 - 2019 - Superintendência de Tecnologia da Informação/USP