Informações da Disciplina

 Preparar para impressão 

Júpiter - Sistema de Gestão Acadêmica da Pró-Reitoria de Graduação


Escola de Engenharia de Lorena
 
Engenharia de Materiais
 
Disciplina: LOM3246 - Técnicas de Caracterização de Materiais
Techniques for Materials Characterization

Créditos Aula: 4
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 60 h
Tipo: Semestral
Ativação: 01/01/2023 Desativação:

Objetivos
Fornecer ao aluno o conhecimento das principais técnicas de caracterização física e química de materiais.
 
Provide the student with knowledge of the main techniques of physical and chemical characterization of materials.
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
6495737 - Durval Rodrigues Junior
 
Programa Resumido
Análise granulométrica e superficial. Análises microestruturais. Análises térmicas. Reometria.
 
Granulometric and surface analysis. Microstructural analyses. Thermal analysis. Rheometry.
 
 
Programa
Análise granulométrica. Adsorção BET, porosidade e picnometria. 
Análises microestruturais: difração de raios X, figura de Laue; espalhamento de raios X (SAXS). Difração de elétrons. Microscopia Óptica. Microscopia eletrônica, microanálise de raios X (EDX e WDX). 
Análises térmicas: Análise térmica diferencial (DTA), calorimetria exploratória diferencial (DSC) e termogravimetria (TGA).
Reometria de líquidos, soluções e pastas.
 
Grain size analysis. BET adsorption, porosity and pycnometry. Microstructural analysis: X-ray diffraction, Laue figure; X-ray scattering (SAXS). Electron diffraction. Optical Microscopy. Electron microscopy, X-ray microanalysis (EDX and WDX). Thermal analysis: Differential thermal analysis (DTA), differential scanning calorimetry (DSC) and thermogravimetry (TGA). Rheometry of liquids, solutions and pastes.
 
 
Avaliação
     
Método
Listas de exercícios, provas escritas, apresentação de seminário, aulas de laboratório e preparação de relatórios.
Critério
Média ponderada de duas provas escritas, trabalhos e relatórios: P1, P2 e TR. Conceito Final = (P1 + 2P2 + TR)/4
Norma de Recuperação
Aplicação de uma prova escrita dentro do prazo regimental antes do início do próximo semestre letivo. A nota da segunda avaliação será a média aritmética entre a nota da prova de recuperação e a nota final da primeira avaliação
 
Bibliografia
     
LOWELL, S.; SHIELDS, J. E.; THOMAS, M. A.; THOMMES, M. Characterization of Porous Solids and Powders: Surface Area, Pore Size and Density, Springer, 2010.
PADILHA, A.F. Técnicas de Análise Microestrutural, Ed. Hemus, São Paulo, 1985.
MURPHY, D. B. Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging, Wiley-Liss, 2001.
WU, Q.; MERCHANT, F.; CASTLEMAN, K. Microscope Image Processing, Academic Press, 2008.
CULLITY, B. D.; STOCK, S. R. Elements of X-Ray Diffraction, Prentice Hall, 2001.
GOLDSTEIN, J.; et al., Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003.
YACOBI, B. G.; HOLT, D. B.; KAZMERSKI, L. L. Microanalysis of Solids. Plenum Press, 1994.
HATAKEYAMA, T.; ZHENHAI, L. Handbook of Thermal Analysis, Wiley, 1999.
HAINES, P. J. Principles of Thermal Analysis and Calorimetry, Royal Society of Chemistry, 2002.
SCHRAMM, G. Reologia e Reometria. Editora Artliber, 2006.
 

Clique para consultar os requisitos para LOM3246

Clique para consultar o oferecimento para LOM3246

Créditos | Fale conosco
© 1999 - 2024 - Superintendência de Tecnologia da Informação/USP