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Júpiter - Sistema de Gestão Acadêmica da Pró-Reitoria de Graduação


Escola Politécnica
 
Engenharia de Minas e de Petróleo
 
Disciplina: PMI3021 - Técnicas de Caracterização de Materiais
Material Characterization Techniques

Créditos Aula: 2
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 30 h
Tipo: Semestral
Ativação: 01/01/2020 Desativação:

Objetivos
Apresentar conceitos básicos sobre as técnicas analíticas empregadas na caracterização de materiais em geral.
 
Introduce basic concepts about the main analytical techniques applied on materials characterization.
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
41031 - Andre Paulo Tschiptschin
3335301 - Carina Ulsen
2728652 - Francisco Rolando Valenzuela Diaz
68416 - Helio Goldenstein
85597 - Henrique Kahn
89591 - Jose Renato Baptista de Lima
62813 - Patricia Helena Lara dos Santos Matai
 
Programa Resumido
Técnicas de análises químicas instrumentais, difratometria de raios X, técnicas de microscopia óptica e eletrônica, análises térmica e caracterização de porosidade.
 
Chemical analysis, X ray diffraction, optical and scanning electron microscopy, thermal analysis, porosity characterization.
 
 
Programa
Análises químicas por via úmida 
Absorção atômica (AAS)
Espectrografia óptica de emissão (OES)
Espectrometria por fluorescência de raios X (XRF)
Espectrometria de emissão por plasma de acoplamento indutivo (ICP-AES)
Técnicas de cromatografia
Difratometria de raios X
Microscopia óptica
Microscopia eletrônica de varredura e microanálise química
Microscopia eletrônica de transmissão
Técnicas de análises térmica (DTA, DTG, DSC e dilatometria)
Espectrometria por infravermelho – FTIR
Porosimetria de mercúrio e área de superfície específica
 
Tradicional chemical analysis
Atomic absorption (AAS)
Optical emission spectroscopy (OES)
Spectrometry, X-ray fluorescence (XRF)
Emission spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-AES)
Chromatography
X-ray diffraction
Optical microscopy
Scanning electron microscopy and microanalysis
Transmission electron microscopy
Thermal analysis (DTA, DTG, DSC and dilatometry)
Infrared spectroscopy - FTIR
Pore-size distribution and specific surface area
 
 
Avaliação
     
Método
Provas sem consulta e estudos de caso dirigidos em grupo.
Critério
MP = média aritmética das provas individuais
EC = média aritmética dos estudos de caso em grupo
MF = média final

MF = MP, se MP < 4,0
MF = 2MP + EC/3 se MP >= 4,0
Critérios de aprovação (MF >= 5,0 e presença >=70%)
Norma de Recuperação
Rec = (M+ R)/2

M = média obtida no semestre regular
R = nota na prova de recuperação
O aluno será aprovado na recuperação Rec >= 5
 
Bibliografia
     
Absorção atômica (AAS)
EWING, G.N. - 1972 - Métodos Instrumentais de Análises Químicas. 514p.
GOMES, C.B. - 1984 - Técnicas Analíticas Instrumentais Aplicadas à Geologia, 218p.
Espectrografia óptica de emissão
EWING, G.N. - 1972 - Métodos Instrumentais de Análises Químicas. 514p.
GOMES, C.B. - 1984 - Técnicas Analíticas Instrumentais Aplicadas à Geologia, 218p.
Espectrometria por fluorescência de raios X
GOMES, C.B. - 1984 - Técnicas Analíticas Instrumentais Aplicadas à Geologia, 218p.
GRIECKEN et al. - 1992 - Handbook of X-Ray Spectrometry, Methods and Techniques, 704p.
JENKINS, R. - 1988 - X-Ray Fluorescence Spectrometry. 
Espectrometria de emissão por plasma de acoplamento indutivo (ICP-AES)
GOMES, C.B. - 1984 - Técnicas Analíticas Instrumentais Aplicadas à Geologia, 218p.
BOUMANS, R.W.I.M. - 1987 - Inductively Coupled Plasma Emmission Spectroscopy. Part 1: Methodology, instrumentation and performance. 584p.
Técnicas de cromatografia 
COLLINS, C.H.; BRAGA, G.L.; BONATO, P.S. – 1990 - Introdução a Métodos Cromatográficos. 4a ed. Editora da UNICAMP. 
Difratometria de raios X
CULLITY, B.D. - 1977 - Elements of X-ray Diffraction, 2nd. ed., 555p.
JENKINS, R.; SNYDER, R. Introduction to X-ray powder diffractometry.   John Wiley & Sons, , 1996. 
Microscopia óptica
BLOSS, F.D. - 1967 - An Introduction to the Methods of Ootical Crystalography. Holt, Rinehart and Wiston Inc. 294p. 
RAMDOHR, P. - 1969 - The Ore Minerals and their Intergrowths. Pergamon Press. 1174p.
RUSS, J. C. - 1990 - Computed Assisted Microscopy - The measurement and analysis of images. 
Microscopia eletrônica de varredura e microanálise química
GOLDSTEIN, J.I.; et al - 1994 - Scanning Electron Microscopy and X-ray microanalysis, 2nd ed., 820p.
REED, S.J.B. - 1996 - Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Mmicroscopy in Geology. 201p.
Técnicas de análises térmica (DTA, DTG, DSC e dilatometria)
CHARSLEY, E.L.; Warrington, S.B. - 1992 - Thermal Analysis – Techiques & Applications, 296p.
MUMPTON, F.A. – 1990 – Thermal Analysys in Clay Science, CMS Workshop Lectures V.3, 192p.
Espectrometria por infravermelho – FTIR 
SMITH B.C. – 1996 - Fourier Transform Infrared Spectroscopy, 202p.
Porosimetria de mercúrio e área de superfície específica
WEBB, P.A,; ORR, C.- 1997 -  Analytical Methods in Fine Particle Technology, Ed. Micromeretics, 301p.

 

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