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Júpiter - Sistema de Gestão Acadêmica da Pró-Reitoria de Graduação


Escola de Engenharia de São Carlos
 
Engenharia de Materiais
 
Disciplina: SMM0564 - Microscopia Eletrônica de Varredura
Scanning Electron Microscopy

Créditos Aula: 2
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 30 h
Tipo: Semestral
Ativação: 15/07/2020 Desativação:

Objetivos
Compreender os princípios gerais do funcionamento da microscopia eletrônica de varredura, os principais métodos de preparação de amostras e as técnicas de coleta de informações como, elétrons secundários, elétrons retroespalhados e raio X. Como a disciplina também aborda aspectos práticos, os alunos deverão se familiarizar com os conceitos envolvidos na compreensão do funcionamento do microscópio eletrônico de varredura, seus detectores e demais periféricos, deverão ainda ser capazes de estabelecer a rotina de operação do microscópio.
 
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
5347354 - Marcelo Falcão de Oliveira
 
Programa Resumido
1. O microscópio eletrônico de varredura e seu funcionamento. 2. Interação do feixe de elétrons com a amostra. 3. Formação de imagem e sua interpretação. 4. Geração de raios-X. 5. Espectroscopia de raios-X: EDS e WDS. 7. Microanálise quantitativa por raios-X: básico. 7. Preparação de amostras: básico.
 
 
 
Programa
1. O microscópio eletrônico de varredura e seu funcionamento. 2. Interação do feixe de elétrons com a amostra. 3. Formação de imagem e sua interpretação. 4. Geração de raios-X. 5. Espectroscopia de raios-X: EDS e WDS. 7. Microanálise quantitativa por raios-X: básico. 7. Preparação de amostras: básico.
 
 
 
Avaliação
     
Método
A avaliação é realizada por meio de uma prova teórica e uma prova de conhecimentos práticos. A nota final é a média das duas notas. O curso será ministrado na forma de aulas expositivas com utilização de lousa, slides e filmes através do projetor digital e por meio da realização de experimentos práticos.
Critério
Média final igual ou superior a 5,0 (cinco).
Norma de Recuperação
Os critérios de avaliação da recuperação devem ser similares aos aplicados durante o semestre regular do oferecimento da disciplina; 1) A nota final (MF) do aluno que realizou provas de recuperação dependerá da média do semestre (MS) e da média das provas de recuperação (MR), como segue: d) MF=5 se 5 ≤MR ≤ (10 - MS); e) MF = (MS + MR) / 2 se MR > (10 – MS) f) MF = MS se MR < 5. 2) O período de recuperação das disciplinas deve se estender do início até um mês antes do final do semestre subsequente ao da reprovação do aluno em primeira avaliação.
 
Bibliografia
     
Joseph I. Goldstein et al. - Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2003; Joseph Goldstein- Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis, 2011.
 

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