Propiciar o aprofundamento de conhecimentos em difração de raios-x para a caracterização microestrutural quantitativa e análise de tensões residuais e textura cristalográfica nas classes de materiais cristalinos de engenharia (metais e cerâmicas), de modo a possibilitar ao aluno a execução e a aplicação dos métodos de análise de maneira autônoma.
Produção e propriedades dos raio-X, teoria cinemática de difração de raios-X, lei de Bragg, instrumentação e geometrias na difração de raios-X, análise quantitativa de fase e microestrutura via reginamento Rietveld, análise de tensões residuais e análise de textura cristalográfica.
Teoria: Produção e propriedades dos raios-X (laboratório e síncrotron), teoria cinemática de difração de raios-X, lei de Bragg, instrumentação e geometrias na difração de raios-X, análise quantitativa de fase e microestrutura via refinamento Rietveld, análise de tensões residuais (definições, método de sen2psi, constantes elásticas de difração, incidência rasante, análise de filmes finos e gradientes de tensão residual e influência da textura cristalográfica, exemplos) e análise de textura cristalográfica (definições, medição de figuras de polo, cálculo e determinação das ODFs, figura de polo inversa, exemplos). Prática: Práticas laboratoriais sobre as análises de fase e microestrutura, de tensões residuaise textura cristalográfica usando a difração de raios-X.
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