Informações da Disciplina

 Preparar para impressão 

Júpiter - Sistema de Gestão Acadêmica da Pró-Reitoria de Graduação


Escola de Engenharia de São Carlos
 
Engenharia de Materiais
 
Disciplina: SMM0565 - Tópicos em Difração de Raios-X para a Análise de Materiais de Engenharia
Topics in X-ray Diffraction for the Analysis of Engineering Materials

Créditos Aula: 4
Créditos Trabalho: 0
Carga Horária Total: 60 h
Tipo: Semestral
Ativação: 15/07/2020 Desativação:

Objetivos
Propiciar o aprofundamento de conhecimentos em  difração de raios-x para a caracterização microestrutural quantitativa e análise de tensões residuais e textura cristalográfica nas classes de materiais cristalinos de engenharia (metais e cerâmicas), de modo a possibilitar ao aluno a execução e a aplicação dos métodos de análise de maneira autônoma.
 
 
 
Docente(s) Responsável(eis)
6931500 - Haroldo Cavalcanti Pinto
 
Programa Resumido
Produção e propriedades dos raio-X, teoria cinemática de difração de raios-X, lei de Bragg, instrumentação e geometrias na difração de raios-X, análise quantitativa de fase e microestrutura via reginamento Rietveld, análise de tensões residuais e análise de textura cristalográfica.
 
 
 
Programa
Teoria: Produção e propriedades dos raios-X (laboratório e síncrotron), teoria cinemática de difração de raios-X, lei de Bragg, instrumentação e geometrias na difração de raios-X, análise quantitativa de fase e microestrutura via refinamento Rietveld, análise de tensões residuais (definições, método de sen2psi, constantes elásticas de difração, incidência rasante, análise de filmes finos e gradientes de tensão residual e influência da textura cristalográfica, exemplos) e análise de textura cristalográfica (definições, medição de figuras de polo, cálculo e determinação das ODFs, figura de polo inversa, exemplos).
Prática: Práticas laboratoriais sobre as análises de fase e microestrutura, de tensões residuaise textura cristalográfica usando a difração de raios-X.  
 
 
 
Avaliação
     
Método
Média ponderada de uma prova oral ou final escrita, dos relatórios das práticas e uma apresentação oral de seminário, com avaliação individual e coletiva das práticas conduzidas em equipe.
Critério
Média final igual ou superior a 5,0 (cinco).
Norma de Recuperação
Os critérios de avaliação da recuperação devem ser similares aos aplicados durante o semestre regular do oferecimento da disciplina; 1) A nota final (MF) do aluno que realizou provas de recuperação dependerá da média do semestre (MS) e da média das provas de recuperação (MR), como segue: d) MF=5 se 5 ≤MR ≤ (10 - MS); e) MF = (MS + MR) / 2 se MR > (10 – MS) f) MF = MS se MR < 5. 2) O período de recuperação das disciplinas deve se estender do início até um mês antes do final do semestre subsequente ao da reprovação do aluno em primeira avaliação.
 
Bibliografia
     
Reimers, W.: Pyzalla, A. R.; Clemens, H.. "Neutrons and Synchrotron Radiation in Engineering Materials Science", WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2008.
CULLITY B.D.; STOCK S.R. "Elements of X-Ray Diffraction", Addison-Wesley Publishing Company, London.
LUG H.P.; ALEXANDER L.E.. "X-Ray Difraction Procedures for Polycrystaline and Amorphous Materiais", Wiley, New York.
Olaf Engler, "Introduction to Texture Analysis: Microtexture, and Orientation Mapping", Cir Pr Inc, 2009.
V. Hauk, "Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Methods: Evaluation - Application - Assessment: Evaluation, Application, Assessment", Saunders Ltd., 1997.
Alain Lodini, M.E. Fitzpatrick, "Analysis of Residual Stress by Diffraction Using Neutron and Synchrotron Radiation", Routledge Chapman & Hall, 2003.
Mario Birkholz, "Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Tecniques for Structural Characterization", Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2005.
 

Clique para consultar os requisitos para SMM0565

Clique para consultar o oferecimento para SMM0565

Créditos | Fale conosco
© 1999 - 2024 - Superintendência de Tecnologia da Informação/USP