Ao final do curso o aluno deverá ter adquirido as seguintes competências específicas (C) sobre o uso de métodos de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como de difração de nêutrons na caracterização de materiais aplicados em engenharia:
C1. Compreender e aplicar a teoria de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como a difração de nêutrons;
C2. Adquirir conhecimentos sobre a difração de raios-x e de nêutrons para a caracterização microestrutural quantitativa e a análise de tensões residuais e textura cristalográfica nos materiais cristalinos e semi-cristalinos de engenharia, de modo a possibilitar ao aluno a execução e a 
aplicação dos métodos de análise de maneira autônoma.
C3. Adquirir conhecimentos sobre o método de refinamento Rietveld aplicado a materiais de engenharia.

Para alcançar as competências (C) listadas acima, o aluno deverá desenvolver
as seguintes habilidades (H):
H1. Estudar a teoria de difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, assim como a difração de nêutrons;H2. Estudar os métodos de caracterização de materiais de engenharia, usando a difração de raios-x em laboratório e com luz sincrotron, e a difração de nêutrons.
H3. Utilizar amostras, peças e componentes de engenharia para a caracterização microestrutural quantitativa, bem como para a análise de tensões residuais e de textura cristalográfica usando a difração de raios-x em laboratório.
H4. Desenvolver habilidades de pesquisa para investigar e resolver problemas em engenharia de materiais usando métodos de difração de raios-X e nêutrons.

1. Produção e propriedades dos raios-X, luz sincrotron e nêutrons;
2. Teoria cinemática de difração;
3. Lei de Bragg;
4. Instrumentação e geometrias na difração de raios-X em laboratório e
com luz síncrotron, bem como com nêutrons;
5. Análise quantitativa de fase e microestrutura via refinamento
Rietveld;
6. Análise de tensões residuais;
7. Análise de textura cristalográfica.

1. Produção e propriedades dos raios-X, luz sincrotron e nêutrons;
2. Teoria cinemática de difração;
3. Lei de Bragg;
4. Instrumentação e geometrias na difração de raios-X em laboratório e com luz síncrotron, bem como com nêutrons;
5. Análise quantitativa de fase e microestrutura via refinamento Rietveld
6. Análise de tensões residuais (definições, método de sen2psi, constantes elásticas de difração, incidência rasante, análise de filmes finos e gradientes de tensão residual e influência da textura
cristalográfica, exemplos);
7. Análise de textura cristalográfica (definições, medição de figuras de polo, cálculo e determinação das ODFs, figura de polo inversa, exemplos);
8. Práticas laboratoriais sobre as análises de fase e microestrutura, de tensões residuais e de textura cristalográfica usando a difração de raios-X aplicada a amostras, peças e componentes de engenharia.